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集成电路高温老化系统

老化是一种试验,用来筛选或排除少量因制造失常而导致固有缺陷或缺陷的设备,而这些缺陷会引发和时间和应力相关的故障。


为什么要老化?

 
可靠性专家经常使用一个图像来描述产品的寿命,这个图像被称作浴盆曲线

 

浴盆曲线由三个阶段组成:故障率减小的早期故障阶段,接下来为正常寿命阶段(也叫做有效寿命),故障率较低且相对稳定,最后为磨损阶段,故障率是增加的。

 

很多类型的设备和系统在早期寿命中展示出固有的减少的故障率特性。相对较高的早期故障率通常归因于生产过程中的固有不确定性。很长时间以来,老化已经被认为是在交货前检测和消除部件或系统

早期故障的一种有效方法。没有老化,缺陷部件可能就被交付到了用户手中,导致昂贵的现场维修和名誉上的损害。


注意,老化并非是产品改进技术。对一些产品进行老化不能改善每个单元单独的可靠性。然而,老化通过清除劣质的部分来提高了整体的可靠性,使得单元总体更加可靠和均匀。老化同样还会提供
造成早期故障的不同故障机理的重要信息,为监控制造过程的质量工程师和帮助分析导致早期故障机理出现的变化提供有价值的反馈。

 

对一电子部件进行老化试验。在初始的试验中,累积的故障百分比如下:

 
1、第1天有6%故障
 
2、第2天有10.1%故障

3、第3天有12%故障

4、第4天有13.8%故障

5、第5天有14.5%故障

6、第6天有15%故障

7、第7天有15.1%故障

  
老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化,很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。


尚测生产的各种老化房符合标准:1.GB/T 2423.2—2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》;2、MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。


适用范围:适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路,包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老化筛选。


一、集成电路高温老化系统技术特点:

①  一板一区,可满足16种不同试验参数的器件同时老化。

②  强大的图形发生系统,64路数字和2路模拟可编程信号。

③  完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。


二、PCBA老化房技术性能


2.1、PCBA老化房试验区域
 
16个 (一板一区)
 
 8个 (一板一区)
 

2.2、试验容量
 
200×16=320位(以DIP14为例)
 
136×8=1088位(以DIP14为例)  
 

2.2.1、一级电源
 
8∽16台25V/40A或40V/25A等规格可选
 
4∽8台25V/40A或40V/25A等规格可选
 

2.2.2、二级电源
 
◆每个通道提供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。

◆每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。

◆输出能力:±1.00V~±18.00V/10A。

◆电源监测:实时监测记录二级电源的电压,并可生成图形曲线,便于试验监控。
 

2.2..3、数字信号

◆每个通道:64路数字信号。

◆编程能力:编程深度256Kbit;最小编程步长:100ns;编程分辨率:100ns;最高信号频率:5MHz。

◆寻址能力:可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00~A35, 可寻址行列地址刷新器件64Gbit(老化DRAM/SDRAM等)AXX~A17,AYY:A00~A17。

◆信号特性:每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能。

◆驱动能力:IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。
 

2.2..4、集成电路高温老化系统模拟信号
 
◆模拟信号数:2路

◆波形类型:正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波。

◆模拟信号指标: 信号可编程频率:1Hz~32KHz; 程控幅度范围Vpp:0~±10V;

直流偏移量范围Vdc:0~1/2 Vpp;编程步长: 0.01V;驱动能力:≥1.0A;

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