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可控硅老化系统

可控硅老化系统符合标准:MIL-STD-750、GJB-128等试验标准。


可控硅老化系统适用范围:适用于各种封装形式的可控硅(闸流晶体管)寿命试验(功率循环)和耐压试验。


 
可控硅高温老化系统试验温区
 
1、强迫风冷,水平风道, 20套风冷系统
 
2、高温试验箱1台 温度范围:室温~200℃
 

3、试验区域
 
10个
 
8个
 

试验通道
 
20个
 
16个
 

试验工位
 
20个
 
22×16=352位
 

试验电源
 
10台5V/200A交流电源
 
8台交流高压稳压源。1000V/1A。
 

试验电流/电压
 
5~100A
 
最高试验电压1000V AC
 

驱动检测板
 
20套       16套
 

ON/OFF控制系统
 
20套
 
 

可控硅老化系统温度检测系统:
 


工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。
 

可控硅老化系统主要功能
 
◆ON/OFF时间、循环次数、试验电流上下限。

◆实时监测显示老化参数(IF、VF、TC)及循环次数;

◆实时记录保存老化参数(IF、VF、TC);

◆实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超限时间;

◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线。。
 
◆漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定;

◆实时监测显示老化参数(IR、VR、Temp)及老化时间、老化进度;

◆实时记录保存老化参数(IR、VR、Temp);

◆实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超限时间;

◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线。
 

电网要求
 
三相AC380V,10KW
 
单相AC220V,4KW

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